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適配TriStarII3020表面與孔隙分析杜瓦瓶
產(chǎn)品簡介

適配TriStarII3020表面與孔隙分析儀玻璃杜瓦瓶是配套TriStarII3020儀器使用的,

產(chǎn)品型號:
更新時間:2024-11-06
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問量:919
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適配TriStarII3020表面與孔隙分析杜瓦瓶

適配TriStarII3020表面與孔隙分析儀玻璃杜瓦瓶儀器簡介:

TriStarII3020新一代全自動比表面積和孔隙度分析儀,可同時進行三個樣品的分析從而提高分析效率,提供全吸附、脫附曲線、BET及Langmuir比表面、平均孔尺寸和單點總孔體積、BJH中孔、大孔體積、面積分布、總孔體積、deBoert-plot數(shù)據(jù)處理微孔體積和表面積,厚度公式、αs-plot和f-ratio法、MP法。

歧管和三個樣品分析站分別配有獨立的傳感器,可以同時的測量三個樣品,PO管同樣擁有獨立的壓力傳感器。

軟件配備自檢系統(tǒng),方便用戶自行檢測儀器

選配的分子渦輪泵以及10mmHg可以將儀器升級到微孔單元。

技術(shù)參數(shù):

1.比表面測量范圍為氮氣吸附0.01m2/g 至無上限,氪氣吸附0.0001m2/g 至無上限

2.孔徑分析范圍:3.5 ?!?000 埃,

3.測量5 點BET 比表面僅需20 分鐘。

4.重復性優(yōu)于1%。

5.真正的三站同時測量。每個分析站均有獨立的高精度壓力傳感器。

6.新的軟件字幕,以太網(wǎng)口連接主機和電腦的通訊數(shù)據(jù)線,內(nèi)置電子檢測點和強大的儀器自診斷功能.

7.可升級至微孔單元,選配的分子渦輪泵和10mmHg高精度壓力傳感器

8.多種樣品制備系統(tǒng)可選。

適配TriStarII3020表面與孔隙分析儀玻璃杜瓦瓶儀器主要特點:

分析方法包括

全吸附、脫附曲線(吸附脫附曲線都做到1000 個測量點)

單點或多點BET 比表面積

Langmuir 比表面

平均孔尺寸和單點總孔體積

BJH 吸附/脫附曲線,中孔、大孔信息

(體積、面積分布)

Harkins Jura 厚度層公式

Halsey 厚度層公式

中孔和大孔體積、面積對孔徑分布

NLDFT 非定域密度函數(shù)理論

總孔體積Validation reports

專為企業(yè)服務(wù)的SPC(Statistical Process Control 統(tǒng)計過程控制)報告。

Dollimore-Heal adsorption and desorption

Kruk-Jaroniec-Sayari correction

de Boer t-plot(數(shù)據(jù)處理微孔體積和表面積,厚度公式)

αs-plot f-ratio

MP 法,Harkins Jura 厚度層公式,Halsey 厚度層公式,

Kruk-Jaroniec-Sayari correction


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